導熱系數測試儀主要技術參數：
1、導熱系數測試儀溫度范圍是從RT至1500度,使用的是: 碳化硅加熱器爐, 即使碳化硅zui高加熱器能加熱到1600度，即使爐溫達到了1600度，樣品溫度肯定沒有達到1600度，并且碳化硅棒加熱器在空氣中使用到800℃時開始氧化，溫度達到1000——1300℃時，發熱部表面生成一層二氧化硅保護膜，1300℃時結晶出石英，在1500℃時，保護膜達到一定的厚度，從而使組件的氧化速度變得極為緩慢，趨于穩定。如果繼續升溫至1550℃以上時,則保護膜　受到破壞，氧化速度顯著增加，造成碳化硅棒加熱器組件過早損壞,所以碳化硅加熱器爐只能測試到RT至1500度,但是探測器仍然是InSb紅外探測器,控制爐溫及測試樣品溫度是熱電偶.
2、導熱系數測試儀測試溫度范圍是從RT至1600度,使用的是: 二硅化鉬加熱器爐, 二硅化鉬加熱器zui高加熱溫度能加熱到1800度,從而保證樣品能測試到1600度, 但是探測器仍然是InSb紅外探測器,控制爐溫及測試樣品溫度是熱電偶(注明:其它廠商沒有二硅化鉬加熱器爐).
3、導熱系數測試儀測試溫度范圍是從RT至2000度, 使用的是:石墨加熱爐(或鎢加熱爐),但是石墨加熱爐生產成本比二硅化鉬加熱器爐貴進大慨叁萬美元,并且石墨加熱爐容易被氧化,所以必需抽真空或通保護性氣體,另外值得注意的是: 石墨加熱爐控制爐溫及測試樣品溫度必須使用光學高溫計,不能使用熱電偶,因為熱電偶不能耐受1700度以上溫度,但是普通光學高溫計不能測試出RT-900度數據,如果測試RT至2000度使用普通光學高溫計測試900-2000度數據,使用熱電偶測試RT-800數據,它們之間不但相互更換繁瑣,且石墨爐對熱電偶有污染,造成使用成本加大(注明:美國安特公司解決此技術難題,使用的是黑體光學高溫計, 黑體光學高溫計可以連續測量、光滑覆蓋從室溫到2800℃測溫數據,一次性測試出結果數據).